描述

有\(n\)块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

格式

输入格式

输入数据第一行为一个整数\(n\)，表示芯片个数。

第二行到第\(n+1\)行为\(n×n\)的一张表，每行\(n\)个数据。表中的每个数据为\(0\)或\(1\)，在这\(n\)行中的第\(i\)行第\(j\)列\(（1<=i,j<=n）\)的数据表示用第\(i\)块芯片测试第\(j\)块芯片时得到的测试结果，\(1\)表示好，\(0\)表示坏，\(i=j\)时一律为\(1\)（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。

样例1

输入样例1

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

输出样例1

1 3

限制

时间：\(1s\) 空间：\(128M\)

\(2<=n<=1000\)

来源

地址：\(zloj，J2021\)域
作者：\(jialiang2509\)